主要特色：
n 高低感量測(cè)試應(yīng)用(0.1uH~100uH)
n 10V~1000V脈沖測(cè)試電壓,0.25V測(cè)量解析度
n 高速測(cè)量 120mS(Pulse 1.0,標(biāo)準(zhǔn)充電時(shí)間)
n 具備電感測(cè)量接觸檢查功能
n 具備電感差異電壓補(bǔ)償功能
n 脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz),10bits
n 崩潰電壓分析功能
n 低電壓量測(cè)檔位,提高波形分析靈敏度(32V/64V/128V/256V/512V/1024V)
n 繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
n USB波形儲(chǔ)存與畫(huà)面擷取功能
n 圖形化彩色顯示
n 標(biāo)準(zhǔn)LAN,USB,RS232介面
產(chǎn)品概述：
n Chroma 19301為繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器，結(jié)合了高低感量測(cè)技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與 200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍感量產(chǎn)品測(cè)試滿(mǎn)足絕大部份功率電感測(cè)試需求，擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)偵測(cè)(FLUTTER)及波形二階微分偵測(cè)(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效檢測(cè)線(xiàn)圈自體絕緣**。
n 繞線(xiàn)元件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐壓進(jìn)行測(cè)試，而線(xiàn)圈之自體絕緣**通常是造成線(xiàn)圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)**、 molding加工制程**，或絕緣材料之劣化等所引起，故加入線(xiàn)圈層間短路測(cè)試有其必要性。
n Chroma 19301為針對(duì)繞線(xiàn)元件測(cè)試需求所設(shè)計(jì)，利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與待測(cè)線(xiàn)圈形成RLC并聯(lián)諧振，由振蕩之衰減波形，透過(guò)高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗(yàn)出線(xiàn)圈自體之絕緣**，提供功率電感元件進(jìn)行繞線(xiàn)品質(zhì)及磁芯之耐壓測(cè)試，讓元件生產(chǎn)廠商及使用者能更有效的為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。
n Chroma 19301于自動(dòng)化生產(chǎn)上應(yīng)用，擁有超高速測(cè)量速度有效縮短測(cè)試時(shí)間提升生產(chǎn)效率，且電壓補(bǔ)償功能改善了自動(dòng)化機(jī)臺(tái)配線(xiàn)等效電感之影響。
n 全新的人機(jī)操作介面，整合圖形化彩色顯示并提供畫(huà)面擷取功能，透過(guò)前面板USB儲(chǔ)存波形，不僅適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，更可應(yīng)用于研發(fā)、品保單位使用進(jìn)行樣品分析比對(duì)，大幅提升操作便利性。
選購(gòu)附件：
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Model
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Description
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19301
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繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器
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A193001
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SMD Choke 測(cè)試治具
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A193002
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1m測(cè)試線(xiàn)+測(cè)試夾
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A193003
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1m測(cè)試線(xiàn)+截平頭
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A193004
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1m測(cè)試線(xiàn) BNC to BNC(含BNC公頭*2)
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主要銷(xiāo)售：LCR測(cè)試儀,,信號(hào)發(fā)生器,數(shù)字存儲(chǔ)示波器,絕緣電阻測(cè)試儀扭力扳手扭矩扳手耐壓測(cè)試儀直流電阻測(cè)試儀數(shù)字電橋等等測(cè)量?jī)x器，測(cè)試儀器，工具等。（點(diǎn)擊關(guān)鍵詞可進(jìn)入相關(guān)產(chǎn)品目錄）扭力測(cè)試儀瓶蓋扭力測(cè)試儀數(shù)字電橋,扭力扳手
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